QQ在线咨询
咨询热线
0755-26072180
咨询QQ
1874159836

您现在的位置: > 研发知识库 > 高科技行业PDT考核KPI集
缺陷密度
 

 缺陷密度

A)       指标名称: 缺陷密度

B)       指标定义:每千代码行软件包含的缺陷数目。

C)       衡量目的: 度量软件的质量。

D)       计算公式: 缺陷密度 =  (发现的遗留问题数) /  (软件规模)

E)       计量单位:Defects / KLOC

F)        统计周期及时间:每次产品版本测试完成。

G)       收集部门: TEQA监督辅助

H)       考核对象:软件部、LPDTLTDTSWE


eIPD团队专注于研发管理系统、研发 管理软件、研发项目管理系统、产品数据管理、PDM系统、BOM管理系统、研发管理咨询、支撑企业研发管理平台落地。

版权所有 © 深圳壹川技术有限公司 2006-2018  粤ICP备17119424号-1