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缺陷密度
作者:    发布时间:2013/9/24
 

 缺陷密度

A)       指标名称: 缺陷密度

B)       指标定义:每千代码行软件包含的缺陷数目。

C)       衡量目的: 度量软件的质量。

D)       计算公式: 缺陷密度 =  (发现的遗留问题数) /  (软件规模)

E)       计量单位:Defects / KLOC

F)        统计周期及时间:每次产品版本测试完成。

G)       收集部门: TEQA监督辅助

H)       考核对象:软件部、LPDTLTDTSWE


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